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高リゾリューションSMDの破片X光線の反対の検出システム1ボタン操作

Unicomp X光線
2025-11-20
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#x ray inspection system #x ray detection equipment #x ray inspection equipment
SMDの破片の電子部品のUnicomp X光線の反対の検査システム この装置は巻き枠材料の生産の急速なカウントのために主に使用されます、物質的なタイプはすべての抵抗タイプ材料およびIC材料を含んでいます;イメージ情報への生産の材料そしてアクセスのX線イメージ投射の使用によって、イメージのアルゴリズムの計算のR & D、材料の実際の数へのアクセス、間統計量の分類に従う材料の数。 特徴: 1. 1ボタ... もっと見る
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